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          高斯计

          探针台、控温仪、传感器、氦质谱检漏仪

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           霍尔效应测量系统 产品简介

                  当今有许多新型的半导体和电子材料正在被开发并应用,这些材料的包括光电材料(太阳能电池)、热电材料、新型的显示技术、有机材料和高功率器件。这些材料具有电子的特性,变得越来越难测量。

                  事实上,目前直流磁场的电子输运测量系统不能测量其中的许多材料,原因在于这些材料的低迁移率电子特性及一些高功率器件需要用在高温条件下表征其特性。 因此,这些材料正期待着一种新的测试方法来表征。

           

           主要产品
          产品型号简述产品特点
          具体参数

          9700A系列霍尔效应测试系统

          美国 Lake Shore 9700系列霍尔效应测量系统可获得的数据结果包括:电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度、电流-电压特性曲线。


          测量数据时实反馈,以图形和表格的形式显示在软件中。用Van der Pauw、Hall bar、四引线磁阻法测量的数据还可以日后进行进一步的处理、分析和显示。

          ●    标准系统阻值测量范围:0.04 mΩ to 200GΩ


          ●    最大磁场9T


          ●    温度范围:2K到400K


          ●    可与QMSA量子迁移率普分析软件配合使用


          ●    可对稀磁半导体材料和铁磁性金属材料的反常霍尔效应进行测量


          ●    交流电阻选件:电阻低到10?Ω

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          8400系列交直流霍尔效应测试系统

          美国 Lake Shore 8404霍尔效应测量采用范德堡法进行样品测试,是一个很健全的测量平台,测量选件包括:交流磁场选件、低温选件、高温选件,高阻选件,低阻选件、光学通道选件、门电压选件。当你的材料测量需要变化时,可以根据需要增加新的选件。

          ●    迁移率从 10-3到 106 cm2/Vs


          ●    电阻从10 μΩ to 100 GΩ


          ●    直流磁场达1.69 T,可选的交流磁场达1.18 T


          ●    温度范围从15 K到1273 K

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          8425霍尔效应及低温探针台集成系统

          美国 Lake Shore 8425霍尔效应及低温探针台集成系统结合了8400系列霍尔系统的综合霍尔测量能力和CRX-VF探针台的方便、灵活性。集

          两者优点于一身。


          它最大可以测量直径达51mm(2in)的整块或者部分晶片,避免了对焊接晶片的切割,而传统的测量系统中这是必须进行切割的。由于样品是处于真空环境中(标准霍尔系统没有这个功能),这使其成为一些易受空气接触影响或者需要烘干除湿材料的理想测试平台。

          ●    在真空探针台下进行完整的霍尔效应测试的系统


          ●    支持一系列直流条件下霍尔效应测试


          ●    在真空探针台下进行完整的霍尔效应测试的系统


          ●    支持一系列直流条件下霍尔效应测试


          ●    最大磁场2T,电阻范围0.5mΩ-100G


          ●    变温范围10k-400k,采用闭循环制冷机制冷,不需要消耗制冷剂


          ●    包含8400软件,可以做简单的系统操作、数据采集和分析


          ●    支持多载流子分析数据导出

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          M91/M91-T快速霍尔测量仪

          M91快速霍尔测量仪是一款革命性的全新的一体式仪器,可为参与电子材料研究的研究人员提供更高的精度和速度,以及更佳的使用便利性。


          M91采用Lake Shore专利的全新快速霍尔测量技术,从根本上改变了霍尔效应产生和测量的方法,无需在测量过程中切换所施加磁场的极性。这一突破可以实现更快,更准确的测量,特别是在使用高场超导磁体或测量极低迁移率材料时。

          ●    支持范德堡和霍尔巴测试


          ●    FastHall技术在使用范德堡测试方法的样品时无需再进行磁场翻转


          ●    支持传统DC霍尔测量


          ●    支持Step-By-Step操作,实现您想要的任何测试


          ●    自动优化激励量程和测量量程


          ●    无需AC磁场技术即可实现迁移率低至0.001cm2/Vs的测量


          ●    高阻选件允许测量样品阻值 10MΩ to 200GΩ


          ●    从干扰测量参数中提取有效测试数据


          ●    可与简易SCPI命令界面或MeasureLINK-MCS 软件配合使用


          ●    数字和模拟I/O,用于简化集成

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